फ्लैश मेमोरी चिप इंटेलिजेंट टेस्ट सिस्टम

उत्पाद वर्णन: 1. स्मार्ट टेस्ट सिस्टम YC-N8-NAND एक व्यापक फ्लैश मेमोरी टेस्ट सिस्टम है जिसे समानांतर में 8 फ्लैश कणों का परीक्षण करने के लिए अनुकूलित किया जा सकता है। 2.YC-N8-NAND परीक्षण पैटर्न और अनुकूलित परीक्षण मापदंडों की एक विस्तृत श्रृंखला का समर्थन करता है। यह एक-क्लिक का मूल परीक्षण प्रवाह, अत्यधिक लचीला प्रयोगात्मक परीक्षण और उन्नत परीक्षण प्रवाह प्रदान करता है, और यह एक-क्लिक बुनियादी परीक्षण प्रवाह, अत्यधिक लचीला प्रयोगात्मक परीक्षण और उन्नत परीक्षण प्रवाह प्रदान कर सकता है, जो शेष जीवन की भविष्यवाणी, वास्तविक परीक्षण, डेटा प्रतिधारण और फ्लैश मेमोरी कणों की पठन गड़बड़ी जैसे विभिन्न कार्यात्मक परीक्षणों का एहसास कर सकता है। परीक्षण पूरा होने के बाद परीक्षण रिपोर्ट को जल्दी और आसानी से निर्यात किया जा सकता है। यह फ़्लैश कण वर्गीकरण और अनुप्रयोग के लिए सबसे सटीक संदर्भ प्रदान करने के लिए सबसे सहज ग्राफिकल टेस्ट डेटा प्रदान करता है। यह फ़्लैश कण वर्गीकरण और अनुप्रयोग के लिए सबसे सटीक संदर्भ भी प्रदान करता है और फ़्लैश कण गुणवत्ता परीक्षण परिणामों के आधार पर बुद्धिमान ग्रेडिंग को सक्षम बनाता है। उत्पाद विनिर्देश: 1. JEDEC स्टैंड नंबर 218 द्वारा परीक्षण किया गया: सॉलिड स्टेट टेक्नोलॉजी एसोसिएशन B-2016 सॉलिड-स्टेट ड्राइव (SSD) आवश्यकताएँ और सहनशक्ति परीक्षण मोथो; JEDEC मानक संख्या 47 NVCE के बाद परीक्षण का आधार: सॉलिड स्टेट टेक्नोलॉजी एसोसिएशन, एकीकृत सर्किट की तनाव-परीक्षण-संचालित योग्यता; औद्योगिक-ग्रेड परीक्षण तापमान पर्यावरण आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए 3 टेस्ट बोर्ड डिज़ाइन विनिर्देश;