वैन डेर पॉव एक्सपेरिमेंट सिस्टम (Vdx-01)

अर्धचालक नमूनों में प्रतिरोधकता को मापने और हॉल गुणांक के निर्धारण के लिए वैन डेर पॉव सेट-अप। सेमीकंडक्टर सामग्री अनुसंधान और उपकरण परीक्षण में अक्सर नमूने की प्रतिरोधकता और हॉल गतिशीलता का निर्धारण करना शामिल होता है। अर्धचालक सामग्री की प्रतिरोधकता अक्सर चार-बिंदु जांच तकनीक का उपयोग करके निर्धारित की जाती है। चार प्रोब, या केल्विन तकनीक के साथ, दो प्रोब का उपयोग स्रोत धारा के लिए किया जाता है और अन्य दो प्रोब का उपयोग वोल्टेज को मापने के लिए किया जाता है। चार प्रोब का उपयोग जांच प्रतिरोध, प्रत्येक जांच के तहत फैलने वाले प्रतिरोध और प्रत्येक धातु जांच और अर्धचालक सामग्री के बीच संपर्क प्रतिरोध के कारण माप त्रुटियों को समाप्त करता है। क्योंकि एक उच्च प्रतिबाधा वोल्टमीटर थोड़ा करंट खींचता है, इसलिए जांच प्रतिरोध के पार वोल्टेज गिरता है, प्रतिरोध फैलाता है, और संपर्क प्रतिरोध बहुत कम होता है। अर्धचालक पदार्थ की प्रतिरोधकता का निर्धारण करने के लिए एक सामान्य केल्विन तकनीक वैन डेर पॉव (VDP) विधि है। वैन डेर पॉव विधि में एक समान मोटाई के फ्लैट, मनमाने आकार के नमूने की परिधि पर चार छोटे संपर्कों का उपयोग करके एक करंट लगाना और वोल्टेज को मापना शामिल है। यह विधि बहुत छोटे नमूनों को मापने के लिए विशेष रूप से उपयोगी है क्योंकि संपर्कों की ज्यामितीय दूरी महत्वहीन है। नमूना ACA A s आकार के कारण होने वाले प्रभाव, जो कि अनुमानित जांच रिक्ति है, अप्रासंगिक हैं। प्रायोगिक सेट-अप का विवरण 1। प्रोब्स अरेंजमेंट 2। वैन डेर पॉव सेट-अप, वीडीपी -01 3। इलेक्ट्रोमैग्नेट, EMU-50V 4। लगातार चालू बिजली की आपूर्ति, DPS-50 5. डिजिटल गॉसमीटर, DGM-202